半导体测试仪
ET-294
ET-294, 数字晶体管DC参数测试仪, 主要用于测试多种半导体的DC参数,例如:二极管,晶体管,可控硅,和场效应晶体管,也可用于测试电容的抵挡电压, 变阻器的保护电压和电流的绝缘. 同时能测试78 和79 系列三终端稳压器.
此测试仪已经采用了大比例集成电路适用于模拟/数字转换. 具有高灵敏度和高准确度.它采用液晶显示能直接读数. 结构紧凑,方便操作, 轻便,特别适用于电子工厂检查,设备和成分的放映以及从事电子工作的技术员,实验工作人员,维护人员和无线电接收装置的应用.
应用:
- 测量各种晶体二极管,三极管,.硅可控整流器,场效应晶体管的前进电压, 相反电压, 前进的饱和压降, 扩大因子和反向漏电
- 测量化学电容器,涤纶电容器,Ta电容器,多层陶器电容器,高压锁扣装置的额定工作电压.
- 测量变阻器的保护电压.
- 测量氖管,霓虹灯的起动电压.
- 测量78,79 系列三极电路连续电压值.
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产品规格 |
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功能 |
范围 |
显示范围 |
分辩率 |
工作条件 |
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V(BR) |
1000V |
0-1999V |
1V |
击穿电流 < 1mA |
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200V |
0-199.9V |
0.1V |
击穿电流 < 1mA |
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VCC(Set) |
2A(Ic) |
0-6.00V |
0.01V |
Ic≈2000mA Ib≈200mA |
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800mA(Ic) |
0-6.00V |
0.01V |
Ic≈800mA Ib≈80mA |
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100mA(Ic) |
0-6.00V |
0.01V |
Ic≈100mA Ib≈1mA |
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10mA(Ic) |
0-6.00V |
0.01V |
Ic≈10mA Ib≈1mA |
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hFE |
10mA(Ib) |
0-199.9 |
0.1 |
Ib≈10mA |
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1mA(Ib) |
0-1999 |
1 |
Ib≈1mA |
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1µA(Ib) |
0-1999 |
1 |
Ib≈0.01mA |
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ICEO |
2000µA |
0-1999µA |
1µA |
Vce ≈ 27V |
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78,79 三极连续电压值 |
78xx/79xx |
0-24.0V |
0.1V |
Ui ≈ 27V |
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